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大型冷熱沖擊試驗箱交付,賦能電子科技企業(yè),芯片、電路板可靠性測試再升級

更新時間:2025-07-11      瀏覽次數(shù):86

在電子科技領域,產(chǎn)品的可靠性至關重要。隨著電子產(chǎn)品應用場景的不斷拓展,從酷熱的沙漠到嚴寒的極地,從高濕度的雨林到干燥的高原,芯片、電路板等核心部件面臨著未有的環(huán)境挑戰(zhàn)。為了確保產(chǎn)品在復雜環(huán)境下的穩(wěn)定運行,電子科技企業(yè)不斷尋求更測試手段。近日,電子科技企業(yè)名稱迎來了一臺大型冷熱沖擊試驗箱的交付,為其芯片、電路板可靠性測試帶來了重大升級。

大型冷熱沖擊試驗箱交付,賦能電子科技企業(yè),芯片、電路板可靠性測試再升級


此次交付的大型冷熱沖擊試驗箱由供應商精心打造,具備性能指標。其溫度調節(jié)范圍極為廣泛,高溫可達 150℃,低溫低至 - 70℃,能夠精準模擬地球上幾乎所有氣候環(huán)境。試驗箱的溫度轉換速率令人驚嘆,可達 15℃/min,可在短時間內實現(xiàn)高低溫的急劇變化,真實模擬電子產(chǎn)品在實際使用中頻繁遭遇的溫度驟變情況。同時,該試驗箱采用 PID 智能控溫算法,將溫度波動范圍嚴格控制在 ±1℃以內,確保測試環(huán)境的高度穩(wěn)定,為獲取準確可靠的測試數(shù)據(jù)提供了堅實保障。

在芯片可靠性測試方面,該試驗箱展現(xiàn)出了強大的功能。企業(yè)研發(fā)團隊將新型處理器芯片置于試驗箱內,進行了連續(xù) 72 小時的冷熱循環(huán)測試。在測試過程中,芯片經(jīng)歷了從 - 40℃的低溫環(huán)境到 85℃高溫環(huán)境的反復切換,同時保持滿負荷運行狀態(tài)。通過實時監(jiān)測芯片的運算速度、功耗、信號傳輸穩(wěn)定性等關鍵參數(shù),研發(fā)團隊發(fā)現(xiàn)芯片在高溫環(huán)境下存在晶體管漏電率上升的問題?;谠囼炏浞答伒臄?shù)據(jù),研發(fā)團隊對芯片的散熱結構和電路設計進行了優(yōu)化。改進后的芯片在相同測試條件下,性能穩(wěn)定性提升了 25%,有效延長了使用壽命。



對于電路板的測試,大型冷熱沖擊試驗箱同樣發(fā)揮了關鍵作用。企業(yè)選取了應用于車載電子系統(tǒng)的高集成度電路板進行測試,模擬汽車在嚴寒冬季啟動和炎熱夏季暴曬時電路板面臨的溫度變化。測試中,電路板在冷熱循環(huán)過程中出現(xiàn)了焊點開裂、線路短路等故障。技術人員根據(jù)測試結果,優(yōu)化了電路板的焊接工藝,選用了耐高溫、抗低溫的新型焊料,并調整了布線布局,增強了電路板的抗熱應力能力。改進后的電路板通過了更為嚴苛的冷熱沖擊測試,在實際車載環(huán)境中的故障率降低了 30%。
此次大型冷熱沖擊試驗箱的交付使用,不僅顯著提升了該電子科技企業(yè)芯片、電路板的可靠性測試水平,也為企業(yè)加速產(chǎn)品研發(fā)、推出更優(yōu)質的電子產(chǎn)品奠定了堅實基礎。未來,隨著電子科技的不斷發(fā)展,相信這臺試驗箱將在企業(yè)的技術創(chuàng)新中發(fā)揮更大的作用,助力企業(yè)在激烈的市場競爭中脫穎而出。



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